| Profesorado |
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| Programa | Introducción al reconocimiento de patrones. Marco bayesiano.Clasificadores estadísticos paramétricos. Estimación de parámetros.Clasificadores estadísticos no paramétricos. Métodos kernel. Métodos de vecinos próximos.Redes neuronales. Perceptrón multicapa. Técnicas de entrenamiento.Otras técnicas supervisadas. Clasificadores neuro-borrosos: ANFIS. Diseño de clasificadores mediante técnicas evolutivas.Clasificación no supervisada. Fuzzy clustering.Reconocimiento de patrones basado en template matching. |
| Objetivos | El propósito de esta asignatura es dotar al alumno de los conocimientos necesarios para la aplicación de técnicas de reconocimiento de patrones en los diferentes problemas que surgen en el ámbito de la Ingeniería con especial énfasis en bioingeniería, aplicaciones industriales y sistemas de interacción hombre-máquina. |
| Bibliografía |
- "Pattern Classification". Richard O. Duda, Peter E. Hart, David G. Stork. Wiley-Interscience, 2001.
- "Neural Networks for Pattern Recognition". Christopher M. Bishop. Oxford University Press, 1995.
- "Neuro - Fuzzy and Soft Computing". J.-S. R. Jang, C.-T. Sun, E. Mizutani Prentice Hall. Matlab Curricum Series, 1997.
- "Genetic Fuzzy Systems" O. Cordón, F. Herrera, F. Hoffman, L. Magdalena World Scientific, Advances in Fuzzy Systems - Applications and Theory Vol. 19, 2001
- "Genetic Algorithms in Search, Optimization and Machine Learning" D.E. Goldberg Addison Wesley, 1987
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| Metodología | El curso comprende tres partes fundamentales: 1) Presentación de la teoría básica general que proporcione un marco común a las diferentes técnicas que se introducirán posteriormente. 2) Exposición de la gama de técnicas habitualmente utilizadas. 3) Todas las técnicas tendrán su reflejo en prácticas propuestas que el alumno deberá realizar usando los conocimientos adquiridos. |
| Evaluación | Las habilidades del alumno serán evaluadas mediante las pruebas prácticas realizadas, valorando especialmente el sentido crítico del alumno en la valoración de los resultados encontrados. |
| Requisitos | Conceptos básicos de estadística y probabilidad. |
| Observaciones | |
| Página Web | http://www.cyc.ull.es/asignaturas/ARPI |
| Horario |
Clases:
- Lunes 30/
06/
2008 de
16:00 a
19:00
- Martes 01/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Miércoles 02/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Jueves 03/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Viernes 04/
07/
2008 de
16:00 a
19:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Lunes 07/
07/
2008 de
16:00 a
19:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Martes 08/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Miércoles 09/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Jueves 10/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Viernes 11/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Lunes 14/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
(Colisiona con:
Nanocristales para dispositivos ópticos. Obtención y caracterización espectroscópica.)
- Martes 15/
07/
2008 de
16:00 a
20:00
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